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自動(dòng)光學(xué)檢測測試方法

文章來源: 人氣:737 發(fā)表時(shí)間:2017-12-26

深圳賡旭光電科技有限公司專業(yè)生產(chǎn)的帶通濾光片具有寬帶通,多帶通,寬截止帶,膜層縝密性好等特點(diǎn),賡旭光電對(duì)中心波長峰值寬帶大于20nm以上的產(chǎn)品界定為帶通濾光片,采用多層硬膜鍍膜的技術(shù),對(duì)客戶在產(chǎn)品使用過程中期望得到的光通量和特定波段共存要求予以補(bǔ)充,能嚴(yán)格控制透射光的起止波長范圍。產(chǎn)品依據(jù)客戶的指標(biāo)需求予以生產(chǎn)制作。

透鏡,濾光片研發(fā)生產(chǎn).jpg

自動(dòng)光學(xué)檢測測試方法有三種:
1、 PIXEL TO PIXEL(像素對(duì)像素)
將圖形分解為一個(gè)一個(gè)的小方格,再判定其為0(白)或?yàn)?(黑),由此組成圖形。再將記憶之標(biāo)準(zhǔn)圖象與被測物體之圖象,一格一格的比較找出不同點(diǎn)。

像素大小對(duì)測試各方面的影像如下表:
像素大小 大 小 近似于 低倍顯微鏡 高倍顯微鏡 檢測PCB速度 高速 低速 靈敏度和精確度 低 高 偵測力 弱 強(qiáng) 假缺點(diǎn) 少 多 分辯率高所分像越密越小,如遇較小的缺點(diǎn)也能偵測出來,但由于要進(jìn)行對(duì)比的像素比低分辨率時(shí)多,所需時(shí)間越多,速度也越慢。
分辯率太高會(huì)帶來較高的假性缺點(diǎn)(因?yàn)檫^于敏感,而每片板子不可能在微型下也一模樣)。
用PIXEL TO PIXEL 比較法,要花較多內(nèi)存存儲(chǔ)圖象REFERENCE,而且每個(gè)PIXEL都進(jìn)行比較,將花去大量的時(shí)間,且假性缺點(diǎn)高。所以用此種比較法進(jìn)行比較的機(jī)型不會(huì)是一臺(tái)好的AOI。
2、 形態(tài)學(xué)
將原有圖形縮小成點(diǎn)或線然后只對(duì)點(diǎn)和線進(jìn)行比較。(先將影像縮小成骨架,再和記憶之標(biāo)準(zhǔn)骨架進(jìn)行比較)
此法和PIXEL TO PIXEL法相比,所用內(nèi)存少,速度快。
3、功能學(xué)
在此定義了兩個(gè)特性名詞,通過比較這兩個(gè)特性是多或少了來判定是否有缺點(diǎn)存在。
A、JUNCTION:兩個(gè)導(dǎo)體的連接點(diǎn)
B、OPEN END:一個(gè)延伸的導(dǎo)體不能繼續(xù)延伸的端點(diǎn)。
此種檢測方法是先記憶無缺點(diǎn)板有多少個(gè)JUNCTION和OPEN-END,記入REFERENCE中,然后再將獲得的圖形中的JUNCTION和OPEN END與之對(duì)比,無論是多或少了都是有缺點(diǎn)。比起第一種方法來,只須記憶少數(shù)點(diǎn),所花內(nèi)存少,對(duì)比時(shí)間少,假缺點(diǎn)也少。

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